Kim, A., Mutel, C., & Hellweg, S. (2025). Global sensitivity analysis of correlated uncertainties in life cycle assessment. Journal of Industrial Ecology, 29(4), 1090-1105.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Kim, Aleksandra, Christopher Mutel, y Stefanie Hellweg. "Global Sensitivity Analysis of Correlated Uncertainties in Life Cycle Assessment."
Journal of Industrial Ecology 29, no. 4 (2025): 1090-1105.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Kim, Aleksandra, et al. "Global Sensitivity Analysis of Correlated Uncertainties in Life Cycle Assessment."
Journal of Industrial Ecology, vol. 29, no. 4, 2025, pp. 1090-1105.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.