EFFECTS OF COHERENCE AND DOMAIN WALLS ON DIFFRACTION PROFILES IN RARE-EARTH DOPED PbTiO.
The paper presents a study concerning the coherence and domain wall effects on the profile of selected X-ray diffraction (XRD) peaks from the ferroelectric system Pb Ln TiO (Ln = La, Dy). The analysis focuses on the hkl-dependent broadening and asymmetry of certain diffraction peaks. The study was c...
| Publicado en: | Revista Cubana de Física Vol. 42; no. 2; pp. 96 - 103 |
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| Autores principales: | , , |
| Formato: | Artículo |
| Publicado: |
Universidad de La Habana
12/15/2025
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | Ver este registro en EBSCOhost |
| Sumario: | The paper presents a study concerning the coherence and domain wall effects on the profile of selected X-ray diffraction (XRD) peaks from the ferroelectric system Pb Ln TiO (Ln = La, Dy). The analysis focuses on the hkl-dependent broadening and asymmetry of certain diffraction peaks. The study was conducted using a diffraction model evaluated with experimentally determined parameters from XRD and Transmission Electron Microscopy (TEM). The results show that both coherence effects and domain wall scattering contribute significantly to peak asymmetries and diffuse intensity between (h00)/(00h) doublets. The results also show that these effects are sensitive to domain size being more pronounced in lower-order reflections. The choice of dopant directly impacts microstructural parameters. The study highlights the complexity of quantifying ferroelectric microstructures alone from diffraction data. El artículo presenta un estudio sobre los efectos de coherencia y de pared de dominio en el perfil de determinados máximos de difracción de rayos X (DRX) del sistema ferroeléctrico PbLn TiO (Ln = La, Dy). El análisis se centra en el ensanchamiento y la asimetría dependientes de hkl de ciertos picos de difracción. El estudio se realizó utilizando un modelo de difracción evaluado con parámetros determinados experimentalmente mediante DRX y microscopía electrónica de transmisión. Los resultados muestran que tanto los efectos de coherencia como la dispersión de pared de dominio contribuyen significativamente a las asimetrías de los picos y a la intensidad difusa entre los dobletes (h00)/(00h). Los resultados también muestran que estos efectos son sensibles al tamaño del dominio y es más pronunciado en reflexiones de orden inferior. La elección del dopante afecta directamente a los parámetros microestructurales. El estudio destaca la complejidad de cuantificar las microestructuras ferroeléctricas únicamente a partir de datos de difracción. |
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